JESD47是在工業(yè)級(jí)電子產(chǎn)品領(lǐng)域應(yīng)用較為廣泛的可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，它定義了一系列測(cè)試項(xiàng)目，用于新產(chǎn)品，新工藝或工藝發(fā)生變化時(shí)的可靠性測(cè)試

1.參考文獻(xiàn)

2.樣品數(shù)計(jì)算

3.早期失效率計(jì)算

》目的：ELFR(RARLY LIFE FAILURE RATE)早期失效測(cè)試，主要反映出產(chǎn)品在最初投入使用的幾個(gè)月時(shí)間內(nèi)產(chǎn)品的質(zhì)量情況，評(píng)估產(chǎn)品及設(shè)計(jì)的穩(wěn)定性，加速缺陷失效，去除由于先天原因失效的產(chǎn)品

》抽樣標(biāo)準(zhǔn)：早期失效測(cè)試的樣本需要從最少三組不連續(xù)的產(chǎn)品批次中抽取，并由具有品質(zhì)代表性的樣本組成。所有樣本應(yīng)在同一地點(diǎn)用同樣的流程進(jìn)行組裝和收集。在60%的可信度時(shí)，以百萬分之一失效（FPM）為單位，下圖說明了想要達(dá)到不同的早期失效率目標(biāo)的最小樣本數(shù)量

4.基本測(cè)試項(xiàng)目

5.NVM產(chǎn)品需要增加的測(cè)試項(xiàng)目

PCHTDR和LTDR是NVCE之后的測(cè)試項(xiàng)，因此，PCHTDR和LTDR的測(cè)試條件是受NVCE影響的

例：產(chǎn)品A，NVCE循環(huán)10K次，預(yù)期10K次循環(huán)=2年=17520h

55度到85度每天循環(huán)1k次，每天工作14小時(shí)，空閑10小時(shí)（PCHTDR測(cè)試），一共工作10天。

預(yù)計(jì)140小時(shí)損失壽命3652（計(jì)算參照J(rèn)ESD22-177），剩余壽命為17520-3652=13868

10天的100h中需要PCHTDR設(shè)置為100度，才能有效驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性

6.空氣密閉封裝產(chǎn)品增加的測(cè)試項(xiàng)目

氣密性與非氣密性的區(qū)別

》氣密封裝：高等級(jí)集成電路和分立器件通常采用氣密封裝，多采用金屬、陶瓷、玻璃封裝，充有高純氮?dú)饣蚱渌栊詺怏w，也含有少量其他氣體，一般應(yīng)用于軍工和航天領(lǐng)域

》非氣密封裝：工業(yè)級(jí)和商業(yè)級(jí)器件通常采用塑封工藝，芯片是被聚合材料整個(gè)包裹住，屬于非氣密封裝

空氣密閉封裝增加的測(cè)試項(xiàng)

7.非空氣密閉封裝產(chǎn)品增加的測(cè)試項(xiàng)目

8.生產(chǎn)工藝變化時(shí)測(cè)試項(xiàng)目選擇指導(dǎo)