本文節(jié)選自《廣義車規(guī)級電子元器件可靠性設(shè)計與開發(fā)實踐》第五章
對 Tier 1 來講,需要保證零部件按照 OEM 的試驗標(biāo)準(zhǔn)進行開發(fā)并最終通過 DV 及 PV 測試;對 OEM 來講,在各零部件滿足相應(yīng)零部件級試驗標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上,最終還需要保證整車滿足相應(yīng)整車級試驗標(biāo)準(zhǔn)。 對一個具體的零部件來講,OEM 通常重點關(guān)注的是產(chǎn)品的 DV 測試及PV 測試,而 Tier 1 除了需要保證最終的 DV、PV 測試結(jié)果外,還需要在開發(fā)過程中對產(chǎn)品進行各種單元級及系統(tǒng)級的軟硬件功能、性能及參數(shù)的測 試,最后在產(chǎn)品量產(chǎn)時,還需要通過EOL 測試對產(chǎn)品進行下線前的 100% 功能檢測,以保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性及高可靠性。 對汽車電子零部件來講,電氣類試驗項目的數(shù)量是最多的,每個試驗都有其相應(yīng)的試驗?zāi)康摹1?5-8 為電氣類試驗項目舉例(參考 GB/T 28046.2— 2019)。 表 5-8 電氣類試驗項目舉例(12V 系統(tǒng))
按照 GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,車輛的供電電壓范圍見表 5-9。具體代碼根據(jù)客戶要求,12V 系統(tǒng)通常為 C,24V 系統(tǒng)為 F。 表 5-9 車輛的供電電壓范圍
按照 GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,過電壓試驗分兩種情況: 1) 為了模擬發(fā)電機調(diào)節(jié)器失效引起的發(fā)電機輸出電壓上升到高于正常電壓, 在 Tmax-20℃下施加 18V(24V 系統(tǒng)為 36V) 電壓并保持 60min。在試驗過程中, DUT 的功能狀態(tài)等級至少應(yīng)達(dá)到 C 級,必要時可要求達(dá)到更嚴(yán)酷的 A 級。 2) 針對 12V 系統(tǒng),模擬輔助起動時向 DUT 輸入的過高電壓(即跳線啟動) 在室溫下施加 24V 的電壓并保持(60±6)s。在試驗過程中,DUT 的功能狀態(tài)等級至少應(yīng)達(dá)到 D 級,必要時可要求達(dá)到更嚴(yán)酷的 B 級。 3. 疊加交流電壓 此試驗是為了模擬直流供電下出現(xiàn)的紋波電壓,按照 GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,疊加的交流正弦電壓如圖 5-5 所示。在試驗過程中,DUT 的功能狀態(tài)等級應(yīng)達(dá)到 A 級。 圖 5-5 疊加的交流正弦電壓 4. 供電電壓緩升和緩降 此試驗是為了模擬蓄電池逐漸放電和充電時的電壓變化。按照 GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,試驗時對 DUT 有效輸入端同時進行以下試驗:以(0.5±0.1)V/min 的線性變化率或以不大于 25mV 的步長,將供電電壓由USmin 降到 0V,然后從 0V 升到 USmin。 在試驗過程中,DUT 的功能狀態(tài)等級至少應(yīng)達(dá)到 D 級,必要時可要求達(dá)到更嚴(yán)酷的 C 級。 關(guān)于蓄電池充放電特性及蓄電池電壓在 4.2.1 節(jié)及 4.3 節(jié)有詳細(xì)描述。 5. 供電電壓瞬時下降 此試驗是為了模擬其他電路內(nèi)的常規(guī)熔斷器熔斷時引起的電壓瞬時下 降。按照 GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,測試電壓波形如圖 5-6 所示。 在試驗過程中,DUT 的功能狀態(tài)至少應(yīng)達(dá)到 B 級,是否允許復(fù)位可根據(jù)客戶要求。 負(fù)載的供電電壓瞬時下降對負(fù)載的正常功能可能造成嚴(yán)重影響,這部分內(nèi)容在 4.4.5 節(jié)有詳細(xì)描述。 圖 5-6 測試電壓波形 6. 復(fù)位特性 此試驗是為了檢驗 DUT 在不同的電壓驟降下的復(fù)位性能,適用于具有復(fù)位功能的設(shè)備(如裝有一個或多個 MCU 的設(shè)備)。按照 GB/T 28046.2— 2019 的規(guī)定,測試時按圖 5-7 對 DUT 有效輸入端同時施加試驗脈沖電壓, 檢查 DUT 的復(fù)位性能。 圖 5-7 復(fù)位試驗供電電壓 圖 5-7 中,供電電壓以 5% 步長從最低電壓 USmin 降到 0.95USmin,保持5s 后再上升到 USmin,至少保持 10s,并進行功能試驗。然后將電壓降低到0.9USmin 等。按圖 5-7 以 USmin 的 5% 梯度繼續(xù)進行直到降到 0V,然后再將電壓升到 USmin。在試驗過程中,DUT 的功能狀態(tài)應(yīng)達(dá)到 C 級。 7. 啟動特性 此試驗的目的是為了檢驗 DUT 在車輛啟動時的性能。依據(jù) GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,按圖 5-8 及表 5-10 給出的特性參數(shù),將電壓施加到DUT 的有效輸入端,共進行 10 次,每個循環(huán)之間間隔 1~2s。 圖 5-8 啟動電壓曲線 UB—蓄電池供電時的試驗電壓,(V) Us—供電電壓(V) US6—t6 時的供電電壓(V) t6、t8—相應(yīng)狀態(tài)的持續(xù)時間(ms) 表 5-10 啟動電壓系統(tǒng)參數(shù)及等級
車輛的啟動波形(通常所說的 Starting Pro?le)在 4.3.1 節(jié)蓄電池低電壓部分有過描述。對傳統(tǒng)燃油車來講,發(fā)動機啟動過程中帶來的蓄電池的瞬態(tài)低電壓及電壓抖動會影響某些對低電壓狀態(tài)較敏感的設(shè)備及電子器件,如瞬態(tài)低電壓會導(dǎo)致智能高邊芯片自動進入欠電壓關(guān)斷狀態(tài),也可能導(dǎo)致 MCU 欠電壓復(fù)位。為了盡量降低發(fā)動機啟動對系統(tǒng)電壓的影響,設(shè)計中通常采用三種方式:一是在啟動過程中將重要等級較低的大功率負(fù)載(IGN2 負(fù)載) 暫時切斷,以降低蓄電池輸出電流;二是在電子電氣設(shè)備前端設(shè)計儲能電 容,穩(wěn)定系統(tǒng)電壓;三是選用電壓范圍更寬的電子元器件。 8. 拋負(fù)載 此試驗的目的是為了檢驗 DUT 在車輛發(fā)生拋負(fù)載時的抗干擾性能。按照 GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,拋負(fù)載波形模擬了發(fā)生拋負(fù)載現(xiàn)象時產(chǎn)生的瞬態(tài),即在斷開電池的同時,交流發(fā)電機正在產(chǎn)生充電電流,而其電路上仍有其他負(fù)載時產(chǎn)生的瞬態(tài)。 在拋負(fù)載過程中,DUT 的功能狀態(tài)等級應(yīng)達(dá)到 C 級。 根據(jù)現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn),拋負(fù)載脈沖試驗被放在了 ISO 16750-2:2012(對應(yīng) GB/T 21437.2—2021) 中,5a 變成了試驗脈沖 A(Pluse A),無集中拋負(fù)載抑制,5b 變成了試驗脈沖 B(Pluse B),具有集中拋負(fù)載抑制。關(guān)于拋負(fù)載的成因、拋負(fù)載波形的特性及對系統(tǒng)的影響在 4.3.2 節(jié)有詳細(xì)描述。 9. 反向電壓 此試驗的目的是為了模擬車輛輔助啟動 / 跳線啟動時對蓄電池的反向連接。根據(jù) GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,測試電壓及時間見表 5-11。 表 5-11 反向電壓測試電壓及時間
恢復(fù)正常連接后,DUT 的功能狀態(tài)應(yīng)達(dá)到 A 級。 另外,在 4.3.3 節(jié)對系統(tǒng)產(chǎn)生反向電壓的原因及對系統(tǒng)的影響有詳細(xì)描述。 10. 參考接地和供電偏移 此試驗的目的是為了檢驗在 DUT 存在兩條或多條供電線路時組件的可靠性,如對電源接地與信號接地的參考點不一致的組件就需要進行此試驗。根據(jù) GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,所有 DUT 的偏移電壓被定義為(1±0.1)V。試驗過程中 DUT 的功能狀態(tài)應(yīng)達(dá)到 A 級。 地漂移的成因及對系統(tǒng)的影響可參考 4.1.3 節(jié)內(nèi)容。 具體的偏移電壓及測試方法可能根據(jù)不同的 OEM 要求會有所不同,如根據(jù)福特的 FMC1278 試驗標(biāo)準(zhǔn),地漂移被放到了抗干擾測試中,測試項目的編號為 CI 250。標(biāo)準(zhǔn)要求地漂移的電壓為正弦波,頻率范圍為 2~100kHz, 電壓脈沖的幅值最高可達(dá) ±5V。福特 CI 250 試驗標(biāo)準(zhǔn)要求(部分) 如圖 5-9 所示(原標(biāo)準(zhǔn)為英文,為便于理解,翻譯為中文)。 11. 開路特性 開路測試分為單線斷開和多線斷開兩種,此試驗的目的是為了檢驗 DUT 在一條或多條線路突然斷路情況下的性能。根據(jù) GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,斷開時間為(10±1)s,開路阻抗大于或等于 10MΩ。 圖 5-9 福特 CI 250 試驗標(biāo)準(zhǔn)要求(部分) 測試方法是斷開 DUT 系統(tǒng)接口的一條或多條線路,然后恢復(fù)連接,觀察 DUT 在斷路期間和斷路后的狀態(tài)。試驗需要對系統(tǒng)接口的每條線路分別重復(fù)進行測試,如果是有多個連接器的 DUT,應(yīng)對每一種可能的連接分別進行測試。試驗過程中 DUT 的功能狀態(tài)應(yīng)達(dá)到 C 級。 12. 短路特性 此試驗的目的是為了檢驗 DUT 在輸入或輸出端發(fā)生短路時的性能。按照 GB/T 28046.2—2019 的規(guī)定,DUT 的所有有效輸入和輸出端應(yīng)分別依次連接到系統(tǒng)最高電壓 USmax 及地,信號線持續(xù)時間為(60±6)s,負(fù)載電路持續(xù)時間根據(jù)客戶要求,其他輸入和輸出端保持開路或根據(jù)客戶要求。 試驗要求: 1) 所有信號線功能等級達(dá)到 C 級。 2) 所有電子保護輸出端應(yīng)確保能承受短路電流且在切斷短路電流后能恢復(fù)到正常工作(最低達(dá)到 C 級)。 |
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